ZA-500T電解槽鐵碳?jí)航禍y(cè)試儀
鐵碳?jí)航禉z測(cè)儀是一種用于測(cè)量電氣設(shè)備（如電線、電纜等）中電流通過時(shí)產(chǎn)生的電壓降的儀器。它采用鐵碳材料制成，具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點(diǎn)。使用鐵碳?jí)航禉z測(cè)儀可以準(zhǔn)確測(cè)量電壓降，幫助用戶了解電氣設(shè)備的性能，及時(shí)發(fā)現(xiàn)和解決潛在的電氣問題，確保設(shè)備的正常運(yùn)行。該儀器操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，是電力維修、安裝等域的必備工具之一。在電解鋁生產(chǎn)行業(yè)，電解槽壓降是關(guān)系能耗的一個(gè)重要指標(biāo)，通過了解壓降知道電解槽的質(zhì)量，
我公司針對(duì)這種情況研發(fā)生產(chǎn)電解槽壓降測(cè)試儀，可以檢測(cè)電解槽陽極導(dǎo)桿壓降
可根據(jù)測(cè)試電壓來反應(yīng)陽極導(dǎo)桿上電流情況，鐵碳模塊(陽極炭塊、陰極炭塊)及鋼棒頭
焊接的組裝質(zhì)量,以便篩查選用合格的鐵碳模塊，為電解鋁企業(yè)節(jié)省大量的電費(fèi)。同時(shí)根據(jù)測(cè)量數(shù)
據(jù)對(duì)不合格的電解槽進(jìn)行處理。TestCenter具有自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為Testercenter的界面，TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試域中被應(yīng)用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)范測(cè)試診斷過程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享，IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測(cè)試與診斷域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)，也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、導(dǎo)出功能，降低工人勞動(dòng)強(qiáng)度，提率。
二、性能特點(diǎn)
1、設(shè)備電流大精精度高，一鍵式操作，自動(dòng)化程度高。
2、采用電子式原理線路結(jié)合DSP采用大屏幕漢字液晶顯示，所有操作均由漢字菜單提示。
3、數(shù)據(jù)具備掉電存貯及瀏覽功能，能與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)傳送數(shù)據(jù)
3、數(shù)據(jù)記錄、查詢、刪除功能：設(shè)備具備測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)記錄，對(duì)歷史數(shù)據(jù)可查閱；
4、數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能：儀表通過數(shù)據(jù)線連接到電腦上，進(jìn)行數(shù)據(jù)儲(chǔ)存、編譯；
5、具有優(yōu)異的扛電磁干擾性能，在電解槽強(qiáng)磁干擾的工作環(huán)境中，依然保證儀器的精度。
三、參數(shù)
1、量程：0-1000mv 分辨率：0.01mv  精度：0.5﹪，
2、電流：0-200000A（客戶選定）
3、顯示:10寸彩色液晶屏

如果將“L”和“E”接反了，流過緣體內(nèi)及表面的漏電流經(jīng)外殼匯集到地，由地經(jīng)“L”流進(jìn)測(cè)量線圈，使“G”失去作用而給測(cè)量帶來很大誤差。另外，因?yàn)椤癊”端內(nèi)部引線同外殼的緣程度比“L”端與外殼的緣程度要低，當(dāng)兆歐表放在地上使用時(shí)，采用正確接線方式時(shí)，“E”端對(duì)儀表外殼和外殼對(duì)地的緣電阻，相當(dāng)于短路，不會(huì)造成誤差，而當(dāng)“L”與“E”接反時(shí)，“E”對(duì)地的緣電阻同被測(cè)緣電阻并聯(lián)，而使測(cè)量結(jié)果偏小，給測(cè)量帶來較大誤差。當(dāng)總線變?yōu)榭臻e時(shí)，若RXD引腳輸出低電平，則可能導(dǎo)致MCU接收到錯(cuò)誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)后誤接收1個(gè)000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什么變化?如所示，收發(fā)器1在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內(nèi)時(shí)輸出高電平，收發(fā)器2在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內(nèi)時(shí)輸出低電平，可以看出，收發(fā)器2可能導(dǎo)致MCU接收到錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)，并且在數(shù)據(jù)后誤接收到1個(gè)000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)后多000如所示，若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號(hào)或連續(xù)發(fā)送多個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)之間存在的空閑狀態(tài)可能會(huì)被收發(fā)器2識(shí)別為1個(gè)起始位，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)連續(xù)錯(cuò)誤。