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4151調(diào)制域分析儀精密時(shí)間間隔測量廣泛應(yīng)用于衛(wèi)星導(dǎo)航、雷達(dá)、激光測距、粒子物理實(shí)驗(yàn)、計(jì)量及測試等域，隨著人們對測距精度、粒子質(zhì)量鑒別精度和時(shí)間計(jì)量精度的要求不斷提升，皮秒級(jí)時(shí)間分辨率的測試應(yīng)用越來越多。目前外成熟產(chǎn)品的時(shí)間測量分辨率為2s，標(biāo)準(zhǔn)方差為36s左右，內(nèi)中電科儀器儀表公司推出的4151調(diào)制域分析儀時(shí)間測量分辨率可達(dá)5s，標(biāo)準(zhǔn)方差為86s左右，綜合性能到達(dá)了先進(jìn)水平，能夠滿足目前大數(shù)情況對精密時(shí)間的測試需求。LED的芯片其實(shí)就是個(gè)半導(dǎo)體，有如以下的IV曲線。反向電壓如果加的過高，LED會(huì)因被擊穿而損壞，所以很多時(shí)候我們需要去測量反向電壓。若只是單純要測量芯片的特性，基本上使用電源和萬用表即可。主要可測試的項(xiàng)目包括正向電壓、擊穿電壓、漏電流…測試LED的整體IV曲線特性幾個(gè)參數(shù)正向電壓:Vf擊穿電壓:Vr漏電流:IL這些項(xiàng)目的測試其實(shí)并不算困難，但必須要選對合適的測量儀器。若是選擇了不適合的測量儀器，測試的值誤差則會(huì)非常大。
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